Questo libro approfondisce l'analisi degli errori nella struttura fine di assorbimento dei raggi X (XAFS), essenziale per garantire l'affidabilità dei risultati sperimentali. Il primo capitolo definisce gli errori in XAFS, distinguendo tra errori statistici e sistematici, ed esamina il loro impatto sui risultati. Il secondo capitolo si concentra sugli errori statistici, spiegando come stimarli utilizzando vari metodi come la sottrazione di funzioni lisce e la statistica di Poisson. Il terzo capitolo tratta degli errori sistematici, identificandone le fonti e proponendo metodi per stimarli e gestirli. Il quarto capitolo si occupa della stima e del reporting dei limiti di confidenza, descrivendo procedure standardizzate per la valutazione della qualità dei fits. Infine, il quinto capitolo analizza la qualità del fit e il rapporto segnale/rumore, proponendo metodi per la valutazione del S/N e l'interpretazione dei risultati. Questa guida pratica è stata concepita per migliorare l'accuratezza e la trasparenza nell'analisi dei dati XAFS.